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      • BA-6TE日本精品AND艾安得 微型電子天平
        BA-6TE 日本精品AND艾安得 微型電子天平

        產品型號

        BA-6TE

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        更新時間

        2025-08-20

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        168

        產品描述

        日本精品AND艾安得 BA-6TE微型電子天平 日本精品AND艾安得 微型電子天平 用于元素分析、質譜分析等的前處理,從1 μg開始的高精度測量
      • FX-523日本新品AND艾安得 精密分析天平FX-5202
        FX-523 日本新品AND艾安得 精密分析天平FX-5202

        產品型號

        FX-523

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        2025-08-14

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        產品描述

        日本新品AND艾安得 FX-523精密分析天平FX-5202 日本新品AND艾安得 精密分析天平FX-5202 低水分含量測量,可讀性為 10 ppm (0.001%)(MS-70) 采用鹵素燈和創新的二次輻射輔助 (SRA) 技術實現快速均勻加熱 使用酒石酸鈉二水合物進行精度驗證(MS-70、MX-50 和 MF-50 的標準配置)
      • FZ-5202日本新品AND艾安得 精密分析天平
        FZ-5202 日本新品AND艾安得 精密分析天平

        產品型號

        FZ-5202

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        2025-08-14

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        產品描述

        日本新品AND艾安得 FZ-5202精密分析天平 日本新品AND艾安得 精密分析天平 低水分含量測量,可讀性為 10 ppm (0.001%)(MS-70) 采用鹵素燈和創新的二次輻射輔助 (SRA) 技術實現快速均勻加熱 使用酒石酸鈉二水合物進行精度驗證(MS-70、MX-50 和 MF-50 的標準配置)
      • FX-3202WP日本新品AND艾安得 多功能天平
        FX-3202WP 日本新品AND艾安得 多功能天平

        產品型號

        FX-3202WP

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        2025-08-14

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        產品描述

        日本新品AND艾安得FX-3202WP多功能天平 日本新品AND艾安得 多功能天平 低水分含量測量,可讀性為 10 ppm (0.001%)(MS-70) 采用鹵素燈和創新的二次輻射輔助 (SRA) 技術實現快速均勻加熱 使用酒石酸鈉二水合物進行精度驗證(MS-70、MX-50 和 MF-50 的標準配置)
      • FZ-3202WP日本新品AND艾安得 多功能天平
        FZ-3202WP 日本新品AND艾安得 多功能天平

        產品型號

        FZ-3202WP

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        代理商

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        2025-08-14

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        產品描述

        日本新品AND艾安得FZ-3202WP多功能天平 日本新品AND艾安得 多功能天平 低水分含量測量,可讀性為 10 ppm (0.001%)(MS-70) 采用鹵素燈和創新的二次輻射輔助 (SRA) 技術實現快速均勻加熱 使用酒石酸鈉二水合物進行精度驗證(MS-70、MX-50 和 MF-50 的標準配置)
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